Измерение диффузионной длины носителей заряда в приповерхностных слоях монокристалла германия

Journal: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ (Vol.-, No. 4)

Publication Date: 2014-05-23

Authors : Уколов А.И. Надточий В.А. Сысоев Д.В.;

Page : 91-96

Keywords : германий; дефекты; дислокации; диффузионная длина;

Source : Download Find it from : Google Scholar

Abstract

В работе показана возможность практического использования фотоэлектрического метода для определения диффузионной длины неосновных носителей заряда в приповерхностных слоях полупроводников. Выполнены теоретические расчеты концентрации нерановесных носителей заряда за пределами области их генерации

Main Menu

Searching By

PARTNERS

Измерение диффузионной длины носителей заряда в приповерхностных слоях монокристалла германия

Abstract

Advertisement