TlGa1-xInxTe2 (x=0.00, 0.25, 0.50, 0.75) Alaşımlarının Yapısal ve Elektronik Özellikleri
Journal: Süleyman Demirel University Faculty of Arts and Science Journal of Science (Vol.12, No. 1)Publication Date: 2017-07-27
Authors : İsmail YÜCEL; Seyfettin ÇAKMAK;
Page : 30-40
Keywords : DFT metot; Yapısal özellikler; Elektronik özellikler;
Abstract
Bu
çalışmada, yoğunluk fonksiyonel
teorisi dahilinde lineer
genişletilmiş düzlem dalga metodu kullanılarak TlGa1-xInxTe2
alaşımlarının yapısal ve elektronik özellikleri incelendi. TlGa1-xInxTe2
(x=0.25, 0.50, 0.75) alaşımları, TlInTe2 ve TlGaTe2
alaşımları gibi tetragonal yapıya sahiptir. Alaşımların Kristal yapıları P1 (
) uzay grubu kullanılarak elde edildi. Yapısal
hesaplamalardan, birim hücre içerisindeki In konsantrasyonunun artışı ile örgü
parametresi a ve birim hücre hacminin arttığını tespit edildi. Incelenen
alaşımların, elektronik band yapı ve durum yoğunluğu hesaplamalarından,
yarıiletken özellik sergilediğini bulundu. Ayrıca, alaşımların yasak band
enerjisinin x konsantrasyonuna bağlı olarak değiştiği tespit edildi. Hesaplanan
yasak band enerjileri alaşımların dar band aralıklı yarıiletken olduğunu
göstermektedir. Bu çalışmanın bulduları
dörtlü TlGa1-xInxTe2 (x=0.25, 0.50, 0.75)
alaşımları ile ilgilenen araştırmacılar için iyi bir referans çalışma
olacaktır.
Other Latest Articles
- Gama ve X-Işını Radyasyonu Yarı Değer Kalınlık Değerinin Hesaplanması için Yeni Bir Denklem
- Yarımagnetik Yarıiletkenlerde Magnetokalorik Etki
- Kompleks Koaservasyon Yöntemi ile E Vitamini İçeren Mikrokapsül Üretimi
- FAKTOR-FAKTOR YANG BERHUBUNGAN DENGAN CAKUPAN MENELAN OBAT MASSAL PENCEGAH FILARIASIS
- HUBUNGAN SANITASI LINGKUNGAN DAN TINDAKAN 3M PLUS TERHADAP KEJADIAN DBD
Last modified: 2017-08-01 15:50:48