CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu

Bu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki spektroskopik ellipsometre ölçüleri kullanılarak incelendi. Kalınlıkların ve optik sabitlerin hesaplamaları değişken açılardaki elipsometrik ölçümler kullanılarak yapıldı. En duyarlı gelme açısını belirlemek için çeşitli açılarda ölçümler yapıldı. Uygun gelme açısı, ï¹ ve ï„ grafikleri kullanılarak deneysel olarak elde edildi. CdS ince filmlerinin kalınlıklarını, kırılma indisi ve sönüm katsayısı değerlerini belirlemek için Cauchy-Urbach modeli kullanıldı. Ayrıca, geçirgenlik ölçümleri ve bant aralığı değerleri sırasıyla UV-VIS spektrofotometre ve optik metot kullanılarak belirlendi. Sonuç olarak, CdS ince filmlerinin kalınlık ve optik sabitler (kırılma indisi ve sönüm katsayısı) gibi optik özelikleri üzerine gelme açısının etkileri tartışılmıştır.