Вимірювання питомого опору напівпровідника чотирьохзондовим методом
Journal: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ (Vol.-, No. 5)Publication Date: 2015-04-30
Authors : Ольхова А.С. Надточій В.О. Уколов О.І.;
Page : 82-86
Keywords : питомий опiр; зонди; потенцiал; напiвпровiдник;
Abstract
У статтi розглянута методика вимiрювань i обчислювання питомого опору напiвпровiдникiв, для яких можна забезпечити контакти з поверхнею без iнжекцiї носiїв заряду в об'єм. Наведенi формули для обчислення опору об'ємних кристалiв i тонких пластин, якi використовуються для iнтегральних схем
Other Latest Articles
- Преобразования Галилея в теории относительности
- Розрахунки полів температур і термічних напружень у приповерхневих шарах GaAs, ініційованих імпульсним лазерним опроміненням
- Про число нееквівалентних двокольорових хордових O-діаграм максимального роду
- Практичні схеми реалізації протоколів цифрового підпису
- Жорданова нормальна форма та класифікація лінійних однорідних систем диференціальних рівнянь
Last modified: 2018-02-14 19:50:19