О применимости методик определения параметров рекомбинации носителей заряда к приповерхностным слоям полупроводника

Journal: Збірник наукових праць фізико-математичного факультету ДДПУ (Vol.1, No. 10)

Publication Date: 2010-04-15

Authors : Уколов А.И. Надточий В.А. Калимбет А.З Москаль Д.С.;

Page : 88-94

Keywords : слои кристаллов; метод электрического зонда; электроны; дырки; импульс.;

Source : Download Find it from : Google Scholar

Abstract

В данной работе выполнены дополнительные экспериментальные измерения параметров рекомбинации LD и τp по наклону кривых участков зависимостей lnΔU= f(tз).

Main Menu

Searching By

PARTNERS

О применимости методик определения параметров рекомбинации носителей заряда к приповерхностным слоям полупроводника

Abstract

Advertisement